BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统 BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统 关键词：热电，赛贝克系数，电阻率 
BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。 产品特点 ● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。 ● 测试环境温度范围达到81K~700K。 ● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。 ● 采用四线法测量电阻率。 ● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。 ● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。 产品技术参数 型号 | BKTEM-B1 | 温度范围 | RT | 测试气氛 | 空气 | 测量范围 | 赛贝克系数：|S| ≥ 8μV/K 电阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m | 分辨率 | 泽贝克系数：0.05μV/K 电阻率：0.05μΩ•m | 相对误差 | 赛贝克系数 ≤ ±7% 电阻率 ≤ ±10% | 样品尺寸 | 长度:10mm~18mm；宽度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm | 主机尺寸 | 170x250x220（mm） | 重量 | 3.5kg |
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