薄膜热电参数测试系统 1747-L552A
关键词:热电,赛贝克系数,电阻率
1747-L552A 型薄膜热电参数测试系统薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器,采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定,拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
产品特点1747-L552A
● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
● 测试环境温度范围达到81K~700K。
● 采用动态法测 量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
● 采用四线法测量电阻率。
● 卡箍设计,方便进行样品更换,提高效率。
● 软件操作简单,智能化可实现全自动模式。
产品技术参数
型号 | BKTEM-B1 |
温度范围 | RT |
测试气氛 | 空气 |
测量范围 | 赛贝克系数:|S| ≥ 8μV/K 电阻率:0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m |
分辨率 | 泽贝克系数:0.05μV/K 电阻率:0.05μΩ•m |
相对误差 | 赛贝克系数 ≤ ±7% 电阻率 ≤ ±10% |
样品尺寸 | 长度:10mm~18mm;宽度:2mm~7mm;厚度:50nm~2mm |
主机尺寸 | 170x250x220(mm) |
重量 | 3.5kg |
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