MVI56-DFCMR-DF1  单端口vs多端口测试

　1． MVI56-DFCMR-DF1  单端口vs多端口测试

　　 MVI56-DFCMR-DF1 所谓的单端口测试，通常指所有的电路结点（器件管脚）分别与电路板的“地”组成一个个的端口，ASA测试信号总是加在这些端口上进行测试。比如，在单端口的方式下，对一个有N个脚的器件，总共处理N条曲线。

　　但在使用中人们发现，有时候器件的两个管脚分别对地的曲线没有大的变化，但两个管脚之间的曲线变化很大，这种情况仍然属于器件故障，为了解决此类问题，发展了多端口测试方式。

　　所谓的多端口测试，是指对一个器件的任何两个管脚组成的端口，都要进行ASA测试。这样对一个有N个管脚的器件，最多处理NxN条曲线。

　　在汇能测试仪上，对多端口还分了三种情况考虑：

　　a．多端口对称：

　　当处理了2脚对3脚组成的端口后，如果还要处理3脚对2脚组成的端口，就叫做对称方式，否则称为非对称方式。这类似于用万用表，要不要调转表棒再测一次。

　 MVI56-DFCMR-DF1 　由于ASA使用正、负对称的交流测试信号，多数情况下，对同一端口调转信号后测到的曲线和原曲线是对称的，也就是说不能提供更多的故障信息。采用对称方式更多是为了方便分析故障。不过也存在不对称情况。

　　b．非对称含参考脚：

　　c．非对称不含参考脚：

　　所谓含参考脚指要测试1脚对1脚、2脚对2脚、......N脚对N脚组成的端口。这种端口测到的一定是条短路曲线，否则，可能存在其它问题，以该脚为基准测到的曲线不可信。就是说，含参考脚有利于提高测试可靠性。

　　2．自动、手动曲线灵敏度选择

　　ASA测试是依据两条曲线的形状差异来检测故障的，但是，测试数据的差异与把数据以曲线显示出来后，曲线之间的差异并不是一回事。用机械式万用表打个比方。指针越接近中央位置，同样大小的阻值变化引起的指针摆幅越大，也就是指针位置关于故障的灵敏度越高。

　 MVI56-DFCMR-DF1 　对于ASA曲线可以证明，在电压—电流坐标下（VI曲线），曲线的整体走势越接近45度，对故障的灵敏程度越高；如果测试曲线是一个封闭图形，如电容，曲线包围的面积越大，对故障的灵敏度越高。

　　影响曲线走势主要是测试信号的输出电阻。当选择的电阻值越接近被测结点的等效电阻值时，得到的曲线灵敏度越高。

　　汇能测试仪允许对任意一条曲线人工修改测试参数后重测。该特点可用于手工调整曲线灵敏度。但这种办法不仅麻烦——当曲线很多时很难逐一观察、调整，而且很多情况下，也很难直观判断什么样的曲线灵敏度更高一些。汇能测试仪具有自动计算曲线的灵敏度，自动选择灵敏度较高的曲线的功能。这称为ASA曲线灵敏度自动调整。

　　3． 按端口设置测试参数

　　并非同一个器件的所有管脚都适用于同样的测试参数。举个典型的例子：集电极开路器件的输出往往耐压较高，用于驱动数码管、继电器等，而输入都是标准电平，所以对于输出、输入的测试信号的幅度应该不同，才能达到全面检测的目的。

　　汇能测试仪有普通设置和特殊设置两个设置窗口。普通设置对所有的端口有效，而在特殊设置中可对少数特殊端口进行重设。特殊设置的优先级别高于普通设置。

　　在完成测试后，如果对测试结果不满意，还可以用鼠标选中不满意的曲线，打开该曲线的设置窗口，重设后重测该曲线。

　　七、 提高测试可靠性

　　测试可靠性指测试仪能够识别出可能导致误判的ASA曲线。

　　1．接触问题

　　 MVI56-DFCMR-DF1 在大多数情况下，端口之间不是开路的状态，但又不能完全排除这种情况。测到开路曲线的十分可能的原因是，器件管脚氧化、防锈涂层未打磨干净、测试探头磨损等原因导致的接触不良，所以在实际使用中，一旦发现开路曲线，都要进行确认——检查、处理，然后重测，以免得到虚假曲线。但当一次测试要处理成百上千条曲线时，依靠人工来找出开路曲线很不现实，因此，汇能测试仪设有判开路曲线的功能，在所有测到的曲线中，只要存在开路曲线，就给出提示信息，用户可以根据提示很容易找到它的所在。

　　2．曲线稳定性问题判稳定（过渡过程、mos器件、自激）

　　由于被测电路本身的原因，导致在同样的测试条件下，每次测到的曲线都不相同称之为曲线不稳定。由于ASA测试依靠曲线的重合度来发现故障，显然，不稳定曲线很容易导致误判，这要求测试仪能够识别并提示不稳定曲线。

　　经过长期实践，发现导致不稳定曲线的原因主要有以下三种：

　　a．自激导致的不稳定

　　产生自激的原因很好理解。电路结点的电特征千差万别，ASA测试将一个正弦波注入电路结点，某个结点的电特征正好在这个频率下引起自激是完全可能的。其实这也是ASA测试使用正弦波作为测试信号的原因——正弦波的谐波分量最少，导致自激的可能性最小。

　　自激曲线的现象是大面积散点，并且没有最终的稳定状态。更换测试信号频率即可消除自激。

　　b．过渡过程导致的不稳定

　　当结点的冲、放电常数相差较大时所导致。这种曲线的现象是当反复测试时，曲线逐步向一个稳定状态靠近，有一个最终的稳定状态。

　　c．测试MOS器件时的不稳定

　　前两种不稳定主要发生在电路板测试时，而这种不稳定主要发生在测试单独的MOS器件时。导致这种不稳定的原因是器件中的MOS晶体管随测试信号的不同开关过程。

　　这种不稳定的曲线的现象是曲线上下跳，似乎是两条稳定曲线轮流出现一样。测试时只要把器件的电源脚和地脚都接地就可消除。当然，在多端口测试方式下更难处理一些。

　　尽管对于每种不稳定现象都有解释和解决的办法，在使用中最重要的问题是要能够发现不稳定曲线，提示用户去处理。汇能测试仪已经解决了这个问题。只要在所有测试到的曲线中有一条是不稳定曲线，就会给出提示，用户可以根据提示很容易找到它的所在。